Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces تمت الكتابة بواسطة Weronika Walkosz وتم النشر بواسطة Springer. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces هي 9781441978172, 1441978178 و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9781461428572, 1461428572. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource. تشمل الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) للكتاب الدراسي الإلكتروني 9781441978165.

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces تمت الكتابة بواسطة Weronika Walkosz وتم النشر بواسطة Springer. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces هي 9781441978172, 1441978178 و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9781461428572, 1461428572. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource. تشمل الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) للكتاب الدراسي الإلكتروني 9781441978165.