Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997

Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997 1st الإصدار تمت الكتابة بواسطة J. Doneker; I. Rechenberg وتم النشر بواسطة CRC Press. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 هي 9781351456463, 1351456466 و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9780750305006, 0750305002. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource. تشمل الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) للكتاب الدراسي الإلكتروني 9781315140810, 9781351456456, 9781351456470.

Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997 1st الإصدار تمت الكتابة بواسطة J. Doneker; I. Rechenberg وتم النشر بواسطة CRC Press. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 هي 9781351456463, 1351456466 و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9780750305006, 0750305002. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource. تشمل الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) للكتاب الدراسي الإلكتروني 9781315140810, 9781351456456, 9781351456470.