Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks

Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices 1st الإصدار تمت الكتابة بواسطة Evgeni Gusev وتم النشر بواسطة Springer. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks هي 9781402043673, 1402043678 و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9781402043659, 1402043651. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource.

Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices 1st الإصدار تمت الكتابة بواسطة Evgeni Gusev وتم النشر بواسطة Springer. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks هي 9781402043673, 1402043678 و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9781402043659, 1402043651. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource.