Microscopy of Semiconducting Materials

Microscopy of Semiconducting Materials: Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK 1st الإصدار تمت الكتابة بواسطة A.G. Cullis; ‎John L. Hutchison وتم النشر بواسطة Springer. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ Microscopy of Semiconducting Materials هي 9783540319153, 3540319158 و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9783540319146, 354031914X. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource.

Microscopy of Semiconducting Materials: Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK 1st الإصدار تمت الكتابة بواسطة A.G. Cullis; ‎John L. Hutchison وتم النشر بواسطة Springer. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ Microscopy of Semiconducting Materials هي 9783540319153, 3540319158 و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9783540319146, 354031914X. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource.