صورة الغلاف: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 4th edition 9781493966745

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

4th الإصدار

  • المؤلف (المؤلفون) Joseph I. Goldstein; Dale E. Newbury; Joseph R. Michael; Nicholas W. M. Ritchie; John Henry J. Scott
  • الناشر نشر بواسطة Springer حقوق الطبع والنشر © 2018
  • "ISBN-13 9781493966745"
  • شكل تنسيق قابل للتنسيق التلقائي

الكتاب الالكتروني

ترخيص eTextbook
‌
﷼‎128.09 SAR
‌
‌

  • أدوات الدراسة

    أضف أدوات دراسة مثل التمييزات وغيرها

  • القراءة بصوت مسموع

    استمع وانصت أثناء قراءة Bookshelf لك

  • الوصول دون اتصال بالإنترنت

    قم بالوصول إلى الكتاب الدراسي الإلكتروني الخاص بك في أي وقت وأي مكان.

  • بحث عام

    ابحث في محتوى الكتاب والرسومات التوضيحية وكراس التمارين.

أعرف المزيد

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 4th الإصدار تمت الكتابة بواسطة Joseph I. Goldstein; Dale E. Newbury; Joseph R. Michael; Nicholas W. M. Ritchie; John Henry J. Scott وتم النشر بواسطة Springer. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis هي 9781493966769, 1493966766 و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9781493966745, 149396674X. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource.

العودة إلى الأعلى