• التعليم وحلول الأعمال يفتح في نافذة جديدة
صورة الغلاف: Semiconductor Material and Device Characterization 3rd edition 9780471739067

Semiconductor Material and Device Characterization

3rd الإصدار

  • المؤلف (المؤلفون) Dieter K. Schroder
  • الناشر نشر بواسطة Wiley-IEEE Press حقوق الطبع والنشر © 2006
  • "ISBN-13 9780471739067"
  • شكل التنسيق المحدد

الكتاب الالكتروني

ترخيص eTextbook
‌
﷼‎813.13 SAR
‌
‌

  • أدوات الدراسة

    أضف أدوات دراسة مثل التمييزات وغيرها

  • القراءة بصوت مسموع

    استمع وانصت أثناء قراءة Bookshelf لك

  • الوصول دون اتصال بالإنترنت

    قم بالوصول إلى الكتاب الدراسي الإلكتروني الخاص بك في أي وقت وأي مكان.

  • بحث عام

    ابحث في محتوى الكتاب والرسومات التوضيحية وكراس التمارين.

أعرف المزيد

Semiconductor Material and Device Characterization 3rd الإصدار تمت الكتابة بواسطة Dieter K. Schroder وتم النشر بواسطة Wiley-IEEE Press. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ Semiconductor Material and Device Characterization هي 9780471749080, 0471749087 و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9780471739067, 0471739065. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource. تشمل الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) للكتاب الدراسي الإلكتروني 9780471749097.

العودة إلى الأعلى