Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs تمت الكتابة بواسطة Ruijing Shen; Sheldon X. -D. Tan; Hao Yu وتم النشر بواسطة Springer. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs هي 9781461407881, 1461407885 و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9781461407874, 1461407877. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource.

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs تمت الكتابة بواسطة Ruijing Shen; Sheldon X. -D. Tan; Hao Yu وتم النشر بواسطة Springer. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs هي 9781461407881, 1461407885 و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9781461407874, 1461407877. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource.