• التعليم وحلول الأعمال يفتح في نافذة جديدة
صورة الغلاف: Testing Static Random Access Memories 9781402077524

Testing Static Random Access Memories

Defects, Fault Models and Test Patterns

  • المؤلف (المؤلفون) Said Hamdioui
  • الناشر نشر بواسطة Springer حقوق الطبع والنشر © 2004
  • "ISBN-13 9781402077524"
  • شكل التنسيق المحدد

الكتاب الالكتروني

ترخيص eTextbook
‌
﷼‎128.09 SAR
‌
‌

  • أدوات الدراسة

    أضف أدوات دراسة مثل التمييزات وغيرها

  • القراءة بصوت مسموع

    استمع وانصت أثناء قراءة Bookshelf لك

  • الوصول دون اتصال بالإنترنت

    قم بالوصول إلى الكتاب الدراسي الإلكتروني الخاص بك في أي وقت وأي مكان.

  • بحث عام

    ابحث في محتوى الكتاب والرسومات التوضيحية وكراس التمارين.

أعرف المزيد

Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns تمت الكتابة بواسطة Said Hamdioui وتم النشر بواسطة Springer. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ Testing Static Random Access Memories هي 9781475767063, 1475767064 و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9781402077524, 1402077521. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource. تشمل الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) للكتاب الدراسي الإلكتروني 9781441954305.

العودة إلى الأعلى