The Physics of SiO2 and Its Interfaces

Proceedings of the International Topical Conference on the Physics of SiO2 and Its Interfaces Held at the IBM Thomas J. Waston Research Center, Yorktown Heights, New York, March 22-24, 1978

The Physics of SiO2 and Its Interfaces: Proceedings of the International Topical Conference on the Physics of SiO2 and Its Interfaces Held at the IBM Thomas J. Waston Research Center, Yorktown Heights, New York, March 22-24, 1978 وتم النشر بواسطة Pergamon. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ The Physics of SiO2 and Its Interfaces هي 9781483139005, 148313900X و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9780080230498, 0080230490. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource.

The Physics of SiO2 and Its Interfaces: Proceedings of the International Topical Conference on the Physics of SiO2 and Its Interfaces Held at the IBM Thomas J. Waston Research Center, Yorktown Heights, New York, March 22-24, 1978 وتم النشر بواسطة Pergamon. الأرقام الدولية المعيارية للكتب الدراسية الإلكترونية والرقمية لـ The Physics of SiO2 and Its Interfaces هي 9781483139005, 148313900X و الأرقام الدولية المعيارية للكتاب (ISBN) هي 9780080230498, 0080230490. وفّر حتى 80% في مقابل الطباعة عن طريق الانتقال إلى الحياة الرقمية من خلال VitalSource.