Titelbild: Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 1st edition 9780750305006

Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997

Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997

1st Auflage

  • Autor(en) J. Doneker; I. Rechenberg
  • Verleger Veröffentlicht von CRC Press Copyright © 1998
  • "ISBN-13 9780750305006"
  • Format reflowable eBook

eBook

eTextbook-Lizenz
‌
€217.75 EUR
‌
‌

  • Studienhilfen

    Integrierte Lernwerkzeuge wie Hervorhebungen und vieles mehr

  • Vorlesen

    Hören Sie zu und lesen Sie mit, während Bookshelf Ihnen vorliest

  • Offline-Zugriff

    Greifen Sie jederzeit und überall auf Ihr eTextbook zu

  • Globale Suche

    Durchsuche Buchinhalte, Abbildungen und dein Arbeitsbuch.

Erfahren Sie mehr

Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997 1st Auflage verfasst von J. Doneker; I. Rechenberg und veröffentlicht von CRC Press. Die Digital- und eTextbook-ISBNs für Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 lauten 9781351456463, 1351456466 und die Druck-ISBNs lauten 9780750305006, 0750305002. Spare durch digitales Arbeiten mit VitalSource bis zu 80% gegenüber Druck. Weitere ISBNs für dieses eTextbook enthalten 9781315140810, 9781351456456, 9781351456470.

Zurück nach oben