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Durchsuche Electron Microscopes & Microscopy 41 - 60 von 157 Ergebnissen

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    • 3rd Auflage
    • Peter J. Goodhew; John Humphreys; Richard Beanland
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    • Hawkes, Peter W.
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    • Hawkes, Peter W.
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    • Hawkes, Peter W.
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    • Stockley Peter G
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    • 1st Auflage
    • M Aindow
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    Light and Electron Microscopy
    • 1st Auflage
    • Gerard Morel; Mireille Raccurt
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    • Hawkes, Peter W.
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    • Hawkes, Peter W.
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    Proceedings of the International Conference on Microbeam Analysis, 8-15 July, 2000
    • 1st Auflage
    • D Williams
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    • Peter W. Hawkes
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    • Hawkes, Peter W.
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    • Hawkes, Peter W.
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  • Reference
    • 1st Auflage
    • Sudeep Bhattacharjee
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    • 1st Auflage
    • Alexander D. Hyatt; Bryan Eaton
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    and Associated Techniques
    • 1st Auflage
    • Peter Buseck; John Cowley; LeRoy Eyring
    • Oxford University Press
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    • 1st Auflage
    • Mastura Raheel
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    Advanced Characterization Methods
    • Mahmood Aliofkhazraei
    • Elsevier (S&T)
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