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    • Christopher J. Hughes
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    • 1st Auflage
    • Daniel Santavicca
    • CRC Press
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    Principles and Applications of IEEE Std. 1450
    • Gregory A. Maston; Tony R. Taylor; Julie N. Villar
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    • 1st Auflage
    • Jingsheng Jason Cong; ‎Joseph R. Shinnerl
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    • Christoforos N. Hadjicostis
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    • David J. Allstot; Jinho Park; Kiyong Choi
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    • Erik Larsson
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    • Guoping Xiong; Arpan Kundu; Timothy S. Fisher
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    60 GHz and Beyond
    • 1st Auflage
    • Ali M. Niknejad; ‎Hossein Hashemi
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    12th International Workshop, PATMOS 2002, Seville, Spain, September 11 - 13, 2002
    • 1st Auflage
    • Bertrand Hochet; ‎Antonio J. Acosta; ‎Manuel J. Bellido
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    • Philip A. Thomas
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    Efficient Power Extraction, Interface Modeling and Loss Analysis
    • Thorsten Hehn; Yiannos Manoli
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    • Rohit Dhiman; Rajeevan Chandel
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    • Fernando Medeiro; Belén Pérez Verdú; Angel Rodríguez-Vázquez
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    • James E. Vinson; Joseph C. Bernier; Gregg D. Croft; Juin Jei Liou
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    • Rohit Kapur
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    • Stefan Schuermans; Rainer Leupers
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    A Measurement Based Approach
    • S. P. Bhattacharyya; L.H. Keel; D.N. Mohsenizadeh
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    Physik, Eigenschaften, Zuverlässigkeit
    • Josef Lutz
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    • Jan Vandenbussche; Georges Gielen; Michiel Steyaert
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