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    • 1st Auflage
    • Mohammed Ismail; ‎Delia R. de Llera González
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    • 1st Auflage
    • E. Macii
    • Springer
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    • Mike Wens; Michiel Steyaert
    • Springer
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    A 2.5-Dimensional Integration Scheme
    • Yangdong Deng; Wojciech P. Maly
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    • Vančo Litovski
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    • Esteban Tlelo-Cuautle; Ana Dalia Pano-Azucena; Omar Guillén-Fernández; Alejandro Silva-Juárez
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    • Konstantinos Tatas; Kostas Siozios; Dimitrios Soudris; Axel Jantsch
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    Algorithms and Architectures
    • Mayssaa Al Najjar; Milad Ghantous; Magdy Bayoumi
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    Device Design, Process Integration, Characterization, and Reliability
    • Badih El-Kareh; Lou N. Hutter
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    • 1st Auflage
    • Stephane Bronckers, Geert Van der Plas
    • Artech House
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    • 4th Auflage
    • Carter, Bruce
    • Newnes
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    • 1st Auflage
    • Rolf Drechsler; Mathias Soeken
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    Second International Conference (EDIESCA 2021)
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    • Zorich, Robert
    • Academic Press
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    • Bogdan Alexandru Dumitrescu
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    • Konstantin Moiseev; Avinoam Kolodny; Shmuel Wimer
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    Defects, Fault Models and Test Patterns
    • Said Hamdioui
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    • Leopold B. Felsen; Mauro Mongiardo; Peter Russer
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    • Bernhard Wicht
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