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    Grundlagen – Messgeräte - Messverfahren
    • 2nd Auflage
    • Klaus Schon
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    High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques
    • Mingsong Chen; Xiaoke Qin; Heon-Mo Koo; Prabhat Mishra
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    Technologies and Services
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    • Enrico Del Re
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    • Bhattacharya Bhargab B
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    • Abdus Salam Md.
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    With Signal Integrity/ Power Integrity Co-Design
    • 1st Auflage
    • Vishram S. Pandit; Woong Hwan Ryu; Myoung Joon Choi
    • Pearson PTG
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    • 1st Auflage
    • Ming-Li Shiu; Jui-Chin Jiang; Mao-Hsiung Tu
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    • 1st Auflage
    • Avigdor Zonnenshain; Shuki Stauber
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    • 2nd Auflage
    • Matthew S. Brennesholtz; Edward H. Stupp
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    A Practical Guide
    • 1st Auflage
    • Lin Padgham; Michael Winikoff
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    DFSS and Classical Reliability Techniques with Practical Real Life Examples
    • 1st Auflage
    • Zachary Taylor; Subramanyam Ranganathan
    • Wiley-IEEE Press
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    • 2nd Auflage
    • Darran R. Cairns
    • John Wiley & Sons P&T
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    • 1st Auflage
    • John E. Gibson; William T. Scherer; William F. Gibson; Michael C. Smith
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    Advances and Challenges
    • 1st Auflage
    • Prashant Ranjan; Dharmendra Kumar Jhariya; Manoj Gupta; Krishna Kumar; Pradeep Kumar
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    Application to LSI
    • 1st Auflage
    • Shunpei Yamazaki; Masahiro Fujita
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    Integrated Behavior of Machines
    • 1st Auflage
    • Syed V. Ahamed
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    • Won Y. Yang; Taeho Im; Wenwu Cao; Jaekwon Kim; Kyung W. Park; Ho-Hyun Park; Jingon Joung; Jong-Suk R
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    From Data Gathering to Data Comprehension
    • 1st Auflage
    • Deepak Gupta; Siddhartha Bhattacharyya; Ashish Khanna
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