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    • Dmitri Lioubtchenko; Sergei Tretyakov; Sergey Dudorov
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    • Zinan Wang
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    • Xavier Silvani
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    • Zhixiang Hou
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    An Advanced Signal Processing Perspective
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    • Micheal A. P. Pertijs; Johan Huijsing
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    • Johannes Lambrechts; Saurabh Sinha
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    An Introduction
    • Bryan H. Suits
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    An Introduction to the Phenomenology and Spectroscopy
    • Claude Amsler
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    Proceedings of the International Conference SEFI 2000, Paris, France, 6-8 September 2000
    • 1st Auflage
    • Jean Michel
    • CRC Press
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    • 3rd Auflage
    • Heather A. Wade
    • ASQ Quality Press
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    Precision Measurements at ATLAS
    • Kiran Joshi
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    • Yanliang Du; Baochen Sun; Jianzhi Li; Wentao Zhang
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    • 1st Auflage
    • Nord-Eddine Sad Chemloul
    • Wiley-ISTE
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    Theory and numerical methods
    • 1st Auflage
    • Xiao-Zhang Zhang
    • IOP Publishing (Institute of Physics)
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    Volume 26
    • 1st Auflage
    • Roman Gr. Maev
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    • 1st Auflage
    • Eric Beaurepaire; ‎Hervé Bulou; ‎Fabrice Scheurer
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    Materials, Devices and Applications
    • 2nd Auflage
    • Bahram Nabet
    • Woodhead Publishing
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    Proceedings of the Third National Conference on Sensors, February 23-25, 2016, Rome, Italy
    • Springer
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    Developing a Shared Concept System for Measurement
    • Luca Mari; Mark Wilson; Andrew Maul
    • Springer
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