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    Proof Load Testing and the Future of Load Testing
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    • Jens Holger Rindel
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    Handling and Operations, Process Instrumentation, and Working Hazards
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    • Hiroaki Masuda
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    An Introduction
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    • D. P. Mishra
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    • Jiaguo Lu; Wei Wang; Xiaolu Wang; Yongxin Guo
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    esign Approaches,Testing and L
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    • Edward R. Generazio
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    Probing the traps in field-effect transistors
    • Seongil Im; Youn-Gyoung Chang; Jae Hoon Kim
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    Applications in Fat and Oil Technology
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    Static and dynamic x-ray fluorescence for chemical element identification
    • Kenji Sakurai; Wenyang Zhao
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    • Ron Patton; Robert N. Clark; Paul M. Frank
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    • Alaa El-Din A. Bekhit
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    Industrial Application Issues
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    Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung
    • Jürgen Beyerer; Fernando Puente León; Christian Frese
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    Selected Papers from the 9th International Symposium Lisbon, Portugal, July 13–16, 1998
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    • R.J. Adrian; D.F.G. Durao; F. Durst; M.V. Heitor
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    Versatile Particle Detectors for High-Rate Applications
    • Jonathan Bortfeldt
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    Past, Present and Future. International System of Units
    • S. V. Gupta
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