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    Addressing Technological Challenges of Large-Scale Detectors
    • Michael Schenk
    • Springer Spektrum
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    • 2nd Auflage
    • Stefan Keil
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    • Ichiko Misumi
    • Institute of Physics Publishing
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    Frequency measurements and related developments in physics
    • Masatoshi Kajita
    • Institute of Physics Publishing
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    Fundamentals, Measuring Instruments, and Measuring Methods
    • Klaus Schon
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    • Anhu Li
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    • Yoshiaki Sofue
    • Springer
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    • Harsh K. Gupta; Vineet K. Gahalaut
    • Springer
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    How Surveillance Helps Us -- and Harms Us
    • Pat Norris
    • Praxis
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    • 2nd Auflage
    • Edmund Isakov
    • Industrial Press, Inc.
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    • Springer
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    • Masatoshi Kajita
    • Institute of Physics Publishing
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    • 1st Auflage
    • Yong Sang
    • De Gruyter
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    • 1st Auflage
    • Scott S. Olson
    • CRC Press
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    Approaches and Methodologies
    • Pedro Isaias
    • Information Science Reference
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    Measurement, Calibration, and Design
    • Aimé Lay-Ekuakille
    • Engineering Science Reference
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    • 1st Auflage
    • J. P. van Oudenhoven; Tineke Willemsen
    • Garland Science
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    • 1st Auflage
    • Diane L. Damos
    • CRC Press
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    • 2nd Auflage
    • S. P. Venkateshan
    • Springer
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    • 1st Auflage
    • Harold Weinstock
    • Springer
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