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Imagen de portada: Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 1st edition 9780750305006

Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997

Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997

1st Edición

  • Autor(es) J. Doneker
  • Editor Publicado por Routledge Copyright © 1998
  • "ISBN-13 9780750305006"
  • Formato Diseño ajustable

Libro electrónico

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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997 1st Edición fue escrito por J. Doneker y publicado por Routledge. Los ISBN digitales y de libros de texto electrónicos de Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 son 9781351456463, 1351456466 y los ISBN de versión impresa son 9780750305006, 0750305002. Ahorra hasta un 80% en comparación con la versión impresa al volverte digital con VitalSource. Los siguientes son ISBN adicionales para este libro de texto electrónico: 9781315140810, 9781351456456, 9781351456470.

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