System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability

System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability fue escrito por Wang, Laung-Terng; Stroud, Charles E.; Touba, Nur A. y publicado por Morgan Kaufmann. Los ISBN digitales y de libros de texto electrónicos de System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability son 9780123739735, 9780080556802, 0080556809 y los ISBN de versión impresa son 9780123739735, 012373973X. Ahorra hasta un 80% en comparación con la versión impresa al volverte digital con VitalSource. Los siguientes son ISBN adicionales para este libro de texto electrónico: 9786611100049, 9781281100047.

System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability fue escrito por Wang, Laung-Terng; Stroud, Charles E.; Touba, Nur A. y publicado por Morgan Kaufmann. Los ISBN digitales y de libros de texto electrónicos de System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability son 9780123739735, 9780080556802, 0080556809 y los ISBN de versión impresa son 9780123739735, 012373973X. Ahorra hasta un 80% en comparación con la versión impresa al volverte digital con VitalSource. Los siguientes son ISBN adicionales para este libro de texto electrónico: 9786611100049, 9781281100047.