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Imagen de portada: Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials And Reliability 9781845699376

Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials And Reliability

  • Autor(es) Kim, C-U
  • Editor Publicado por Woodhead Publishing
  • "ISBN-13 9781845699376"
  • Formato Diseño ajustable

Libro electrónico

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Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials And Reliability fue escrito por Kim, C-U y publicado por Woodhead Publishing. Los ISBN digitales y de libros de texto electrónicos de Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials And Reliability son 9780857093752 y los ISBN de versión impresa son 9781845699376, 1845699378. Ahorra hasta un 80% en comparación con la versión impresa al volverte digital con VitalSource.

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