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Imagen de portada: Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light 1st edition 9781848219366

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

1st Edición

  • Autor(es) Pierre-Richard Dahoo; Philippe Pougnet; Abdelkhalak El Hami
  • Editor Publicado por Wiley-ISTE Copyright © 2016
  • "ISBN-13 9781848219366"
  • Formato Diseño ajustable

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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light 1st Edición fue escrito por Pierre-Richard Dahoo; Philippe Pougnet; Abdelkhalak El Hami y publicado por Wiley-ISTE. Los ISBN digitales y de libros de texto electrónicos de Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light son 9781119329688, 111932968X y los ISBN de versión impresa son 9781848219366, 1848219369. Ahorra hasta un 80% en comparación con la versión impresa al volverte digital con VitalSource. Los siguientes son ISBN adicionales para este libro de texto electrónico: 9781119329633.

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