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OXIDE RELIABILITY (V23)
A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breakdown, and Reliability

Imagen de portada: OXIDE RELIABILITY (V23) 9789810248420
  • Autor(es)
    Dumin David J
  • Editor
    World Scientific
  • Formato
    Diseño fijo
  • ISBN de versión impresa 9789810248420, 9810248423
  • ISBN de libro electrónico 9789812778062, 9812778063
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OXIDE RELIABILITY (V23): A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breakdown, and Reliability fue escrito por Dumin David J y publicado por World Scientific. Los ISBN digitales y de libros de texto electrónicos de OXIDE RELIABILITY (V23) son 9789812778062, 9812778063 y los ISBN de versión impresa son 9789810248420, 9810248423. Ahorra hasta un 80% en comparación con la versión impresa al volverte digital con VitalSource.

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